成都中冷低溫科技有限公司
詳細摘要： zonglen桌上型高低溫冷熱臺，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-23 在線留言
詳細摘要： CAF絕緣電阻劣化HAST高加速老化壽命試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食...
產(chǎn)品型號：ECM-HAST所在地：成都市更新時間：2025-04-23 在線留言
詳細摘要： HAST 模擬老化壽命加速試驗機，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-23 在線留言
詳細摘要： zonglen高低溫載物臺Thermal CHUCK，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-23 在線留言
詳細摘要： 高低溫載物臺CHUCK，是一款溫度范圍為-65℃到200℃氣冷型高低溫卡盤系統(tǒng)，主要由氣冷高低溫卡盤和氣冷溫控器組成。系統(tǒng)具有寬泛的溫度控制范圍、緊湊的冷卻套件...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-23 在線留言
詳細摘要： 熱流儀搭配液晶顯示屏測量高低溫系統(tǒng)試驗，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor...
產(chǎn)品型號：TS580B所在地：成都市更新時間：2025-04-23 在線留言
詳細摘要： 高低溫沖擊搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng)試驗，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor,...
產(chǎn)品型號：TS580B所在地：成都市更新時間：2025-04-23 在線留言
詳細摘要： CAF測試系統(tǒng) HAST高加速老化壽命試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-18 在線留言
詳細摘要： 高低溫沖擊設(shè)備隔熱風罩Glass Caps定制，根據(jù)不同尺寸可定制化服務(wù)。尺寸從30mm到110mm常規(guī)產(chǎn)品可適配于客戶各類產(chǎn)品尺寸，常備有現(xiàn)貨，并且可以根據(jù)客...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 桌面式高低溫測試儀zonglen，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 桌面式冷熱沖擊機zonglen高低溫，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 桌面式快速溫變試驗機，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（熱流...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 可替代Max TC 接觸式高低溫強迫系統(tǒng)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 臺式芯片高低溫測試機接觸式氣流儀，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： HAST高加速老化壽命試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 導通電阻測試系統(tǒng) HAST高加速老化試驗箱，導通電阻測試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導通電阻性能驗證。更好的保證您PC...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 接觸式氣流儀高低溫沖擊測試設(shè)備替代Max TC，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與...
產(chǎn)品型號：ATC系列所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 桌面型高低溫沖擊設(shè)備熱流儀zonglen，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： PCB離子遷移測試HAST高加速老化試驗箱，PCB離子遷移，簡稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上，由于離子化金屬向相反電極移動，在相對電極還原成原來的金...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言
詳細摘要： 溫度強迫系統(tǒng)接觸式高低溫測試 ATC840，用于需求高溫、低溫、高低溫進行測試/溫度控制的工藝，如：材料特性分析、溫度循環(huán)測試、快速溫變測試、溫度沖擊測試、失效...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-03-05 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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